產品詳情
簡單介紹：
是否提供加工定制 否 品牌 QNIX
型號 7500 測量范圍 0-5000
測定對象 金屬基材上膜厚 測量精度 1μm
分辨率 0.1μm 電源 9V
尺寸 110×60×24mm（mm） 重量 0.15（kg
品名：QNIX7500膜厚儀
詳情介紹：
| 是否提供加工定制 | 否 | 品牌 | QNIX |
| 型號 | 7500 | 測量范圍 | 0-5000 |
| 測定對象 | 金屬基材上膜厚 | 測量精度 | 1μm |
| 分辨率 | 0.1μm | 電源 | 9V |
| 尺寸 | 110×60×24mm（mm） | 重量 | 0.15（kg） |
QNIX7500膜厚儀分為7500型和7500M記憶型兩款。該儀器無需校準，采用探頭與主機一體式設計，探頭也可以通過探頭線連接主機成分體式測厚儀。
QNIX7500膜厚儀特點：
零位穩(wěn)定：**涂層測厚儀測量前都要求校準零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測量準確的前提。一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，確保準確測量。
無需校準：多數(shù)測厚儀除了校零外，還需要用標準片進行調校。測量某一范圍厚度，要用某一范圍的標準片調校。主要是不能滿足全范圍內的線性精度。不*操作煩瑣，而且也會因標準片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補償：涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術，以保證不同溫度下的測量精度。
紅寶石探頭：探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差。
QNIX7500膜厚儀技術指標：
|
QuaNix技術參數(shù)
|
||||||
|
型 號
|
4200
|
4500
|
1200
|
1500
|
7500
|
keyless
|
|
基 體
|
Fe
|
Fe/NFe
|
Fe
|
Fe/NFe
|
Fe、NFe、Fe/NFe
|
Fe/NFe
|
|
探頭形式
|
一體
|
一體、分體
|
無線分體
|
|||
|
顯 示
|
LCD數(shù)字顯示
|
|||||
|
測量范圍
|
0－3000μm
|
Fe:0-3000μm
NFe：0－2000μm
|
0－2000μm
|
0－5000μm
|
0－2000μm
0－5000μm
|
0－5000μm
|
|
測量精度
|
0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%，
2000－5000μm≤±3%
|
|||||
|
顯示精度
|
1μm
|
0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
|
||||
|
工作溫度
|
－10 － ＋60℃
|
|||||
|
溫度補償
|
0－50℃
|
|||||
|
存 儲
|
－
|
1500M型
|
7500M型
|
keylessM型
|
||
|
3900個測量值，999個數(shù)據(jù)組
|
||||||
|
數(shù)據(jù)傳輸
|
－
|
RS232打印、電腦
|
||||
|
統(tǒng)計功能
|
－
|
平均值、*大值、*小值、標準偏差
|
||||
|
超限報警
|
－
|
上下限
|
||||
|
*小基體
|
10mm×10mm
|
|||||
|
*小曲率
|
凸、凹半徑：3mm/25mm
|
凸半徑：5mm，凹半徑：25mm
|
||||
|
*薄基體
|
Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
|
|||||
|
電 源
|
5號電池2節(jié)
|
9V堿性電池1節(jié)
|
5號電池2節(jié)
|
|||
|
重 量
|
110g
|
130g
|
150g
|
130g
|
||
|
尺 寸
|
110×60×27mm
|
166×64×34mm
|
110×60×24mm
|
110×62×22mm
|
||